一、檢測(cè)目的與依據(jù)

1、采用900-1700nm波段高光譜相機(jī)，完成PC、PEEK、PCTFE塑料樣品的光譜數(shù)據(jù)采集工作；

2、通過(guò)高光譜無(wú)損檢測(cè)方式，精準(zhǔn)提取三種塑料材質(zhì)的光譜特征曲線(xiàn)，明確不同材質(zhì)的光譜差異特征；

3、 基于機(jī)器學(xué)習(xí)、深度學(xué)習(xí)算法對(duì)采集的光譜數(shù)據(jù)集進(jìn)行訓(xùn)練、擬合與建模，攻克高光譜技術(shù)無(wú)損識(shí)別PC、PEEK、PCTFE塑料成分的技術(shù)難點(diǎn)，推動(dòng)該無(wú)損識(shí)別技術(shù)的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證與實(shí)際落地應(yīng)用。

二、樣品類(lèi)別及數(shù)量

本次實(shí)驗(yàn)樣品為客戶(hù)提供的待測(cè)工程塑料試樣，具體參數(shù)如下：

1、樣品類(lèi)型：涵蓋PC、PEEK、PCTFE三種材質(zhì)

2、樣品數(shù)量：共計(jì)3片（三種材質(zhì)各1片）

3、樣品狀態(tài)：所有樣品均為原狀送檢，無(wú)預(yù)處理、無(wú)破損改造，可真實(shí)還原檢測(cè)工況。

三、檢測(cè)設(shè)備與采集方式

檢測(cè)設(shè)備

1.  本次實(shí)驗(yàn)核心使用900-1700nm近紅外波段采集數(shù)據(jù)，適配塑料材料光譜特征捕捉需求；

2. 輔助設(shè)備：光學(xué)暗箱（配備350-2500nm光源及放樣移動(dòng)平臺(tái)）；

3.  輔助工具：黑色托盤(pán)（低反射率背景，避免環(huán)境光干擾光譜采集）；

4. 輔助材料：專(zhuān)用標(biāo)識(shí)標(biāo)簽，用于對(duì)PC、PEEK、PCTFE樣品逐一編號(hào)標(biāo)記，實(shí)現(xiàn)樣品與光譜數(shù)據(jù)一一對(duì)應(yīng)，保障數(shù)據(jù)溯源性。

采集方式

1、樣品擺放：

a、專(zhuān)用標(biāo)識(shí)標(biāo)簽，用于對(duì)PC、PEEK、PCTFE樣品逐一編號(hào)標(biāo)記，實(shí)現(xiàn)樣品與光譜數(shù)據(jù)一一對(duì)應(yīng)，保障數(shù)據(jù)溯源性。

2、數(shù)據(jù)采集模式：

統(tǒng)一啟用900-1700nm波段反射采集模式，采集樣品表面的近紅外反射光譜數(shù)據(jù)，獲取各波段對(duì)應(yīng)的反射率參數(shù)；

3、設(shè)備調(diào)參：

調(diào)節(jié)相機(jī)高度，使相機(jī)視場(chǎng)可以覆蓋所有樣品

調(diào)節(jié)鏡頭光圈到最大：F1.4

調(diào)節(jié)鏡頭焦距，使樣品圖像最清晰

調(diào)整曝光時(shí)間至適宜值，避免采集數(shù)據(jù)出現(xiàn)過(guò)曝現(xiàn)象，保證光譜數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。

四、采集結(jié)果

數(shù)據(jù)提供

本次檢測(cè)為每個(gè)樣品提供以下6種格式的完整數(shù)據(jù)文件，確保數(shù)據(jù)可追溯、可分析：

a、900-1700nm原始數(shù)據(jù)（.dat、.hdr格式），完整保留原始采集信息，支持二次分析與模型優(yōu)化；

b、900-1700nm反射率數(shù)據(jù)（.dat、.hdr格式），經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)，可直接用于模型訓(xùn)練擬合，確保數(shù)據(jù)的可靠性；

c、900-1700nm高光譜圖像（.png格式），

d、提供樣品擺放實(shí)拍圖（.jpg格式），留存原始擺放狀態(tài)，便于數(shù)據(jù)追溯與異常排查，保障檢測(cè)流程的可追溯性。

數(shù)據(jù)展示

五、高光譜數(shù)據(jù)分析結(jié)果

采集參考Q/EX C 0628-2025標(biāo)準(zhǔn)